กล้องจุลทรรศน์สำหรับงัดงานระดับนาโนและวัดความเรียบผิวแบบไม่สัมผัสชิ้นงาน

รุ่นใหม่ที่ได้รับรางวัล ผสานรวมกล้องจุลทรรศน์แบบเลเซอร์สแกน  (Hybrid 3D Optical Profiler) ที่ผสานเทคโนโลยี Laser Scanning Microscope (LSM), White Light Interferometry (WLI) และ Focus Variation Microscopy (FVM) ไว้ในแพลตฟอร์มเดียวที่ใช้งานง่าย  สามารถเก็บรายละเอียดของพื้นผิวได้อย่างครบถ้วน ด้วยความแม่นยำและความถูกต้องที่ตรวจสอบได้จริง

การพลิกโฉมมาตรฐานใหม่ของการวัดพื้นผิว (Surface Metrology):

✅ รับประกันความแม่นยำทั้งในโหมด LSM และ WLI

✅ ทำงานได้เร็วขึ้นถึง 40 เท่าเมื่อใช้โหมด WLI

✅ มั่นใจได้กับทุกประเภทของตัวอย่างและรูปร่างชิ้นงาน

เหมาะสำหรับทีมวิจัยและพัฒนา (R&D) ,ทีมควบคุมคุณภาพ (QA) /(QC) ที่ไม่ยอมลดทอนความแม่นยำหรือความเร็ว